地球科学｜青年编委张文文章：微区原位硫同位素新技术研究进展

本文综述了激光剥蚀等离子体质谱（LA-MC-ICP-MS）和二次离子质谱（SIMS）在硫化物硫同位素测定中的最新进展。文章重点讨论了质谱干扰和同位素质量分馏效应的关键技术难点及校正方案，指出这两种技术已能准确测定多种硫化物的δ34S值，其准确度和精密度与传统整体分析技术相当。然而，标准物质的缺乏仍是限制进一步研究的主要因素。未来研究方向包括改进仪器硬件、深入调查同位素质量分馏和基体效应，以及开发新的高质量硫化物硫同位素标准物质。这些技术的发展将为地球科学、环境科学和矿产资源勘查等多个学科提供重要支持。