中科大冯伟 Small Struct.: 液晶的电致淬火效应对于液晶高分子致动的抑制作用

本文研究了中国科学技术大学冯伟团队在《Small Structures》上发表的关于液晶电致淬火效应对液晶高分子致动抑制作用的研究。文章背景介绍了液晶取向对液晶聚合物器件驱动的重要性，以及电致淬火效应的发现。研究目的是探究电致淬火对液晶聚合物涂层表面形貌变形行为的影响。通过偏振光学显微镜、小角X射线散射和拉曼显微镜等手段，研究发现电致淬火效应会显著减小聚合网络的表面形变。结论表明，电场淬火显著抑制了液晶聚合物网络的各向异性形变，为光学和软体机器人领域中液晶设备的设计提供了新的见解。