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纳米成像揭示单晶钴酸锂中晶畴界面诱导的结构失效机制

能源学人 2025-07-23 10:39

文章摘要

本文研究了单晶钴酸锂（LiCoO2）在高电压循环中的结构失效机制，发现其内部晶畴界面是导致应变积累和微裂纹形成的关键因素。通过同步辐射纳米探针衍射成像和纳米计算机断层成像技术，结合机器学习方法，揭示了晶畴界面阻碍锂离子扩散并引发应变积累的机制。铝掺杂（ALCO）通过稳定晶畴内的氧结构，有效抑制了应变积累和微裂纹形成，提升了材料的结构稳定性和电化学性能。研究为高能量密度单晶正极材料的优化提供了新思路。

纳米成像揭示单晶钴酸锂中晶畴界面诱导的结构失效机制

查看文献： Achieving High-Performance Defect-Free LiCoO2 Cathode via a Dopant-Free Approach
查看期刊：Journal of the American Chemical Society

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