3小时TEM公开课下载：制样、SAED衍射斑点标定、DM测量晶格间距、ImageJ形貌分析

本文介绍了一门关于透射电子显微镜（TEM）的公开课，该课程由华算科技旗下测试云平台提供，主要涵盖TEM样品制备和数据分析两大主题。背景方面，课程针对科研人员在TEM制样和数据分析中遇到的常见问题，提供了系统的解决方案。研究目的是通过详细讲解六种制样方法（如常规制样、包埋切片、离子减薄、FIB等）以及三大数据分析软件（ImageJ、DigitalMicrograph、CrysTBox），帮助学习者掌握高质量的样品制备和精确的数据分析技能，从而提升科研效率和表征结果的可靠性。结论部分强调，该课程为免费资源，包含完整的回放视频、课件及软件安装包，旨在通过实际案例演示，使参与者能够独立进行TEM形貌分析、晶格条纹分析和晶体学取向关系分析，满足科研刚需。