什么是SEM尺寸统计？

背景：SEM尺寸统计是通过扫描电子显微镜对材料微观结构进行观察和测量，以获取晶粒、孔隙、颗粒等尺寸信息的过程，是材料性能优化的重要依据。研究目的：介绍如何利用Nano Measurer软件高效、准确地完成SEM图片的尺寸统计与分析，以替代繁琐的手动测量，提升研发效率。结论：该软件操作简便，支持多场景应用和数据便捷导出，能显著加速论文数据处理和发表进程。