Mapping internal temperatures during high-rate battery applications
已完结10由 remanent 发布于 2026/8/18 15:33:44
DOI:10.1038/s41586-023-05913-z
作者:T. M. M. Heenan, I. Mombrini, A. Llewellyn, S. Checchia, C. Tan, M. J. Johnson, A. Jnawali, G. Garbarino, R. Jervis, D. J. L. Brett, M. Di Michiel,&nb
文献类型:期刊论文
补充材料:只需要正文