Improving creep resistance of Al-0.27Zr-0.08Sn (wt%) via cold swaging while maintaining high electrical conductivity
已完结20由 Pantagruel 发布于 2026/8/13 15:38:39
DOI:10.1016/j.msea.2026.150834
作者:Ismael E. Coello,?Sumit Bahl,?Jie Qi,?Lawrence F. Allard,?Chris M. Fancher,?Amit Shyam,?David C. Dunand
文献类型:期刊论文
补充材料:只需要正文