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Investigation of a minority carrier trap in a NiO/β-Ga2O3 p–n heterojunction via deep-level transient spectroscopy

待确认 10 由 qfs 发布于 2026/5/17 11:18:07
DOI:10.1088/1361-6641/acf608
作者:Haolan Qu,?Jiaxiang Chen,?Yu Zhang,?Jin-chi Sui,?Ruohan Zhang,?Junmin Zhou,?Xing Lu,?Xinbo Zou
文献类型:期刊论文
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