Thirteenth Annual IEEE. Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium

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Thirteenth Annual IEEE. Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium

CiteScore：

引用分数（英语：CiteScore，CS）是一种用来反映学术期刊最近发表文章“年平均被引用次数”的衡量指标。该指标由Elsevier于 2016 年 12 月推出，以替代常用的JCR影响因子（由Clarivate计算）。 CiteScore是Scopus中系列期刊指标的一部分，包括 SNIP(源文档标准化影响)，SJR (SClmago杂志排名)，引用文档计数以及引用百分比。

CiteScore	SJR	SNIP	CiteScore排名
0.1			学科排名百分位大类：Engineering 小类：Electrical and Electronic Engineering 778 / 797 2% 大类：Physics and Astronomy 小类：Instrumentation 139 / 141 1%

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Thirteenth Annual IEEE. Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium - 最新文献

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