2015 International Conference on Noise and Fluctuations (ICNF)

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Terahertz rectification by plasmons and hot carriers in gated 2D electron gases

Pub Date : 2015-06-02 DOI: 10.1109/ICNF.2015.7288628 A. Lisauskas, M. Bauer, A. Ramer, K. Ikamas, J. Matukas, S. Chevtchenko, W. Heinrich, V. Krozer, H. Roskos

Low frequency noise temperature measurements in SiGe:C heterojunction bipolar transistors

Pub Date : 2015-06-02 DOI: 10.1109/ICNF.2015.7288603 M. Seif, F. Pascal, B. Sagnes, A. Hoffmann, S. Haendler, P. Chevalier, D. Gloria

Low-frequency noise study of Ge p-MOSFETs with HfO2/Al2O3/GeOx gate stack

Pub Date : 2015-06-02 DOI: 10.1109/ICNF.2015.7288550 W. Fang, J. Luo, C. Zhao, E. Simoen, H. Arimura, J. Mitard, A. Thean, C. Claeys

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