4th IEEE International Symposium on Electronic Design, Test and Applications (delta 2008)

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发文信息

Pub Date : 2008-03-03 DOI: 10.1109/DELTA.2008.57 Eui-Young Chung, C. Kim, S. Chung

Pub Date : 2008-03-03 DOI: 10.1109/DELTA.2008.104 A. Gilman, D. Bailey, S. Marsland

Pub Date : 2008-03-03 DOI: 10.1109/DELTA.2008.46 Byung-Heon Kang, Dong-Ho Lee, C. Hong

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