2011 Sixth IEEE International Symposium on Electronic Design, Test and Application

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发文信息

Pub Date : 2011-01-17 DOI: 10.1109/DELTA.2011.40 M. Ibrahimy, K. Al-Khateeb, M. Hasan, S. Motakabber

Pub Date : 2011-01-17 DOI: 10.1109/DELTA.2011.34 D. Bailey

Pub Date : 2011-01-17 DOI: 10.1109/DELTA.2011.30 P. Liam, Y. Kuang, M. Ooi, M. S. Ong, J. C. C. Yeoh

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