Proceedings 17th IEEE VLSI Test Symposium (Cat. No.PR00146)

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发文信息

Pub Date : 1999-04-26 DOI: 10.1109/VTEST.1999.766704 Jingjing Xu, R. Kundu, F. Ferguson

Pub Date : 1999-04-26 DOI: 10.1109/VTEST.1999.766703 M. Rebaudengo, M. Reorda

Pub Date : 1999-04-26 DOI: 10.1109/VTEST.1999.766678 Zao Yang, K. Cheng, K. Tai

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