2019 IEEE European Test Symposium (ETS)

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Test Adapted Shielding by a Multipurpose Crosstalk Avoidance Scheme

Pub Date : 2019-05-27 DOI: 10.1109/ETS.2019.8791507 Mahsa Akhsham, A. Seyedolhosseini, Z. Navabi

Pinhole Defect Characterization and Fault Modeling for STT-MRAM Testing

Pub Date : 2019-05-27 DOI: 10.1109/ETS.2019.8791518 Lizhou Wu, Siddharth Rao, G. Medeiros, M. Taouil, E. Marinissen, F. Yasin, S. Couet, S. Hamdioui, G. Kar

On Generating Fault Diagnosis Patterns for Designs with X Sources

Pub Date : 2019-05-27 DOI: 10.1109/ETS.2019.8791510 X. Lin, S. Reddy

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