Proceedings of 2011 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test

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发文信息

Pub Date : 2011-04-25 DOI: 10.1109/VDAT.2011.5783609 Jhin-Fang Huang, Yong-Jhen Jiangn, Ron-Yi Liu

Pub Date : 2011-04-25 DOI: 10.1109/VDAT.2011.5783628 Shang-Fu Yeh, C. Hsieh, Chin-Fong Chiu, H. Tsai

Pub Date : 2011-04-25 DOI: 10.1109/VDAT.2011.5783623 Wei-Cheng Lien, Tong-Yu Hsieh, Cheng-Tsung Tsai, Kuen-Jong Lee

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