Ninteenth Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium, 2003.

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发文信息

Pub Date : 2003-03-11 DOI: 10.1109/STHERM.2003.1194366 D. Faulkner, M. Khotan, R. Shekarriz

Pub Date : 2003-03-11 DOI: 10.1109/STHERM.2003.1194365 P. Kaczorowski, Y. Joshi, S. Azarm

Pub Date : 2003-03-11 DOI: 10.1109/STHERM.2003.1194348 M.H. Bunyan, M. de Sorgo

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