2015 IEEE 21st International On-Line Testing Symposium (IOLTS)

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Pub Date : 2015-07-06 DOI: 10.1109/IOLTS.2015.7229822 Y. Kimi, Go Matsukawa, Shuhei Yoshida, S. Izumi, H. Kawaguchi, M. Yoshimoto

Pub Date : 2015-07-06 DOI: 10.1109/IOLTS.2015.7229827 Anis Souari, C. Thibeault, Y. Blaquière, R. Velazco

Pub Date : 2015-07-06 DOI: 10.1109/IOLTS.2015.7229833 Diane Tchuani Tchakonte, E. Simeu, M. Tchuenté

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