2021 IEEE/ACM 6th International Workshop on Metamorphic Testing (MET)

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Pub Date : 2021-06-01 DOI: 10.1109/met52542.2021.00002

Pub Date : 2021-06-01 DOI: 10.1109/MET52542.2021.00017 Andrei Lascu, Matt Windsor, A. Donaldson, T. Grosser, John Wickerson

Pub Date : 2021-06-01 DOI: 10.1109/MET52542.2021.00012 Yao Deng, Guannan Lou, J. Zheng, Tianyi Zhang, Miryung Kim, Huai Liu, Chen Wang, T. Chen

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