干货分享：范德堡电阻率和霍尔电压测试

本文介绍了半导体材料研究和器件测试中常用的范德堡电阻率和霍尔电压测量方法。范德堡电阻率测量主要用于确定半导体材料的电阻率，而霍尔电压测量则用于推导半导体的类型、自由载流子密度和迁移率。文章详细描述了使用4200A-SCS参数分析仪进行这些测量的过程，包括电流源和电压表的配置、测量步骤以及计算方法。此外，文章还讨论了测量中可能遇到的误差来源和注意事项，如静电干扰、泄漏电流和光光电效应等。通过这些测量，可以有效评估半导体材料的电学性能，为材料科学研究和器件开发提供重要数据支持。