IF: 86.2！这篇Nature系列综述，聚焦纳米成像与纳米光谱的发展与展望！

本文综述了散射型扫描近场光学显微镜（s-SNOM）技术近25年的发展与应用。作为突破光学衍射极限的革命性技术，s-SNOM通过原子力显微镜探针捕捉纳米级光散射信号，在可见光至太赫兹宽谱域内实现10 nm级分辨率成像与光谱测量。文章详细介绍了s-SNOM在纳米光子学、材料科学、生物及量子研究等多个领域的应用，包括极端低温环境下的量子态观测、强外场调控下的拓扑材料相变追踪以及液体浸润体系中的电化学界面动态监测。此外，文章还探讨了s-SNOM技术的商业化进程及其在学术界与工业界的广泛应用，展望了未来光源革命、超快探测突破与多技术集成对s-SNOM发展的推动作用。