电镜技术 最新Nature!!!

本文报道了利用扫描透射电子显微镜（STEM）结合高分辨电子能量损失谱（EELS）在纳米尺度下直接探测到镍氧化物（NiO）晶体中的太赫兹频段磁振子。研究突破了传统磁振子探测技术的空间分辨率限制，为自旋电子学器件开发提供了原子级研究工具。通过优化电子光学系统与混合像素探测器，在60 kV低加速电压下实现7.2 meV能量分辨率，首次在STEM-EELS中直接观测到NiO晶体100 meV处的磁振子特征峰。结合动量分辨测量和空间扫描，证实磁振子信号严格局限于30 nm厚NiO薄膜内，并利用第一性原理计算与原子自旋动力学模拟复现实验色散关系。这一成果标志着电子显微镜正式成为磁子学研究的新范式，为解析缺陷/界面对自旋波的调控机制提供了不可替代的工具。