[文献速递Vol.322]-大口径天线副反射面测量光学系统的设计

本文针对射电望远镜大口径天线副反射面在外部环境影响下产生姿态误差的问题，提出了一种基于视觉成像原理的光学测量系统。研究背景指出传统激光跟踪法、全息测量法和摄影测量法存在量程不足、受温度影响大或干扰天线功能等局限。研究目的在于设计一种长焦距、高稳定性的无热光学系统，实现在宽温域和空间环境下对副反射面姿态的高精度测量。通过采用熔融石英等抗辐射材料、优化结构设计及整体调焦方式，系统在-20至40℃温度范围内保持性能稳定，焦距75mm，总长100mm，测量距离1.5-10米，畸变小于0.5%，全视场MTF优于0.4。结论表明该系统具备紧凑性、环境适应性和工程实用性，为大口径天线校准提供了有效解决方案，并具有扩展到其他精密测量领域的潜力。