【干货】什么是SEM尺寸统计？

背景：扫描电子显微镜（SEM）尺寸统计是材料科学等领域中，用于测量材料微观结构（如晶粒、孔隙、颗粒）尺寸的关键技术，对材料性能优化和研发至关重要。研究目的：针对手动进行SEM尺寸统计效率低下、易出错的问题，本文旨在介绍一款名为Nano Measurer的软件工具，以简化测量流程，实现一键测量和自动统计，从而提升数据处理效率和论文发表速度。结论：Nano Measurer软件是一款操作便捷、多场景适用的电镜图像分析工具，能够高效完成尺寸统计与分布分析，并通过与Origin等软件结合进行数据可视化，显著助力科研工作。