基于电源门控的8晶体管物理不可克隆函数：突破评估速度瓶颈的硬件安全新方案 | MDPI JLPEA

本研究针对物联网设备硬件安全需求，提出了一种创新的8晶体管物理不可克隆函数(8T PUF)架构。背景方面，传统6T-SRAM PUF存在评估速度慢、数据残留漏洞和环境敏感性问题。研究目的是通过8T单元设计和两相电源门控技术，提升PUF的性能和安全性。研究结果表明，该方案实现了亚纳秒级重置速度，将评估速度提升10万倍以上，并通过多温度电压角时空多数投票与暗比特掩码协同的数据处理方法，使误码率降至0%。在65nm工艺下验证了50.67%的单元间汉明距离和1.45%的单元内汉明距离，为物联网设备提供了高效能、低功耗的硬件安全解决方案。